Тестер интегральных микросхем

<

060314 0952 1 Тестер интегральных микросхем 1 Синтез схемы электрической структурной

 

1.1 Постановка задачи

 

Заданием данного курсового проекта предусмотрена разработка устройства для тестирования устройства для тестирования интегральных схем. Тестер позволяет проверит большинство распространенных КМОП и ТТЛ-элементов без удаления их из схем. Прибор рассчитан на МС из 14-контактным подключением питания (контакт 7–земля, контакт 14– плюс 5В). При желании его несложно переделать для МС с 16 контактным корпусом и другим подключением питания.

Высокая надежность ИС обусловлена рядом факторов. ИС имеют относительно небольшое количество контактных соединении, а нарушение контакта в таких соединениях – одна из важных причин отказов. Из внешних факторов наибольшее влияние на интенсивность отказов ИС оказывает изменение температуры окружающей среды. Важное значение имеет правильный выбор режима работы.

Исходя из выше сказанного необходимо иметь прибор для локализации неисправностей в цифровых схемах. Самым нужным прибором будет высококачественный тестер, который поможет обнаружить все неисправности в данной ИС. Желательно, но не обязательно, чтобы прибор позволял измерять целостность проводников, осуществлять проверки диодов, транзисторов и т.д.

Тестер должен выполнять функциональный контроль по принципу «годен/негоден», на примере схем К155ЛА3 и к15533ЛЕ1. При тестировании ИС оператор должен будет выполнять следующие действия:

1. Вставить ИС в разъем тестера и включить электропитание устройства, причем включение должно сопровождаться свечением индикатора «ГОТОВ», что объясняет готовность устройства к тестированию ИС.

2. Нажатие кнопок «ТЕСТ-ЛАЗ» или «ТЕСТ –ЛЕ1» (в зависимости от типа тестируемой ИС, переводит устройство в режим тестирования ИС. Каждое нажатие кнопок должно сопровождаться бип-сигналом.

3. По окончанию процедуры тестирования устройство должно указать пригодность тестируемой ИС. В случае, если тестирование прошло успешно и ИС пригодна к использованию, на тестере должен засветиться индикатор «НОРМА»,а в случае, если в ИС обнаружена неисправность, должен засветиться индикатор «БРАК».

4. Чтобы установить тестер в исходное состояние, необходимо нажать клавишу «СБРОС».

 

1.2 Схема электрическая принципиальная

 

В соответствии с заданием данного курсового проекта разработана схема электрическая структурная, которая в общих чертах описывается основные узлы данного устройства.

Типовая структура МК –системы состоит из микроконтроллера, разъема, клавиатуры, дисплея, блока индикаторов и динамика. Результатом процедуры тестирования будет подача сигнала с линией портов Р3.0, Р3.1, Р.3.4, Р3.5 в зависимости от статуса (соответственно «ГОТОВ», «НОРМА», «ТЕСТ», «БРАК»).

Эти сигналы поступают на индикаторы только при выполнении определенных условий, предусмотренных алгоритмом:

  1. Вставить тестируемую ИС в разъем тестера.
  2. Нажать клавишу «ТЕСТ-ЛАЗ» или «ТЕСТ-ЛЕ1» в зависимости от типа ИС. При нажатии клавиш «ТЕСТ-ЛА3»/»ТЕСТ-ЛЕ1» должен прозвучать звуковой сигнал.

     

    Микроконтроллер

    В данном курсовом проекте микроконтроллер обрабатывает информацию, поступающую от клавиатуры ИС разъема, и посылает управляющие сигналы на громкоговоритель для подачи звукового сигнала, на световые индикаторы для подачи светового сигнала и на дисплей для выдачи результата тестирования.

    Для реализации этих действий необходимо наличие следующих функциональных блоков микроконтроллера:

    – Таймер /счетчик для реализации временных задержек

    – Генератор тактовых импульсов

    – Центральный процессор, в состав которого входит арифметико-логическое устройство (АЛУ), которое служит для выполнения арифметических и логических операций над двоичными, двоично-десятичными числами и битами; аккумулятор, счетчик, команд, регистр указатель данных, адресный регистр, указатель стека, регистр специальных функций.

     

    Клавиатура

    Используемая в проекте клавиатура некодирующая матричного типа.

    Представляет собой матрицу контактов, включенных на пересечении строк и колонок. Идентификация нажатой клавиши выполняются программно. В состав клавиатуры входят цифровые и функциональные клавиши. Цифровые служат для ввода числовых значений, а функциональные предназначены для вызова процедур.

    В данном случае на клавиатуре располагаются клавиши «ТЕСТ1» и «ТЕСТ2», которые будут соответствовать выбору типа тестируемой ИС, также нажатие клавиши «ТЕСТ» будет означать начало процедуры тестирования.

     

    Дисплей

    Дисплей предназначен для вывода и отображения информации.

    Для вывода цифровой и символьной информации используется семи-сегмитные и матричные индикаторы.

    Светодиодный семисегметный индикатор представляет собой восемь светодиодов с соединенными катодами или анодами. Сегменты обозначаются буквами А, В, С, D,E, F, G, H.

     

    Блок индикаторов

    Сигналы о результатах выполнения процедуры тестирования будут выдаваться на порты, которые подключены к индикаторам. Индикаторы представляют собой светодиод. При поступлении на него сигнала светодиод засвечивается.

     

    Динамик

    Устройство предназначенное для выводы звукового сигнала, который будет означать, что нажата клавиша «ТЕСТ».

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    2 Выбор и обоснование элементной базы

     

    2.1 Выбор и обоснование элементной базы

     

    УГО SAB80C515

    060314 0952 2 Тестер интегральных микросхем060314 0952 3 Тестер интегральных микросхем060314 0952 4 Тестер интегральных микросхем060314 0952 5 Тестер интегральных микросхем060314 0952 6 Тестер интегральных микросхем060314 0952 7 Тестер интегральных микросхем060314 0952 8 Тестер интегральных микросхем

    060314 0952 9 Тестер интегральных микросхем060314 0952 10 Тестер интегральных микросхем060314 0952 11 Тестер интегральных микросхем060314 0952 12 Тестер интегральных микросхем060314 0952 13 Тестер интегральных микросхем060314 0952 14 Тестер интегральных микросхем

    060314 0952 15 Тестер интегральных микросхем060314 0952 16 Тестер интегральных микросхем060314 0952 17 Тестер интегральных микросхем060314 0952 18 Тестер интегральных микросхем060314 0952 19 Тестер интегральных микросхем060314 0952 20 Тестер интегральных микросхем060314 0952 21 Тестер интегральных микросхем060314 0952 22 Тестер интегральных микросхем

    060314 0952 23 Тестер интегральных микросхем060314 0952 24 Тестер интегральных микросхем060314 0952 25 Тестер интегральных микросхем060314 0952 26 Тестер интегральных микросхем060314 0952 27 Тестер интегральных микросхем060314 0952 28 Тестер интегральных микросхем060314 0952 29 Тестер интегральных микросхем060314 0952 30 Тестер интегральных микросхем

     

    Для реализации задачи данного курсового проекта решено использовать микроконтроллер SAB80C515, который является представителем семейства IМSС-51. Ниже приведена сравнительная характеристика этого микроконтроллера с SAB80C515.

    Высокоэффективный восьмиразрядный однокристальный микроконтроллер SAB80C515 имеет в своем составе шесть восьмиразрядных портов ввода/вывода, один порт ввода для цифрового или аналогового сигнала, три шестнадцатиразрядных таймера/счетчика, высокую гибкость режимов перезагрузки и захвата, двунаправленный последовательный канал, двенадцать векторов прерывания, четыре уровня приоритета, восьмиразрядный аналогово-цифровой преобразователь с восьмью мультиплексированными входами и программируемыми внутренними уровнями напряжения, шестнадцатиразрядный сторожевой таймер, двоичный процессор, возможность расширения внешней памяти до 128 Кбайт, два температурных диапазона: от 0 до 70°C (для ст 12, 16, 20 МГц) и от -40 до 85°С (для 12,16 Мгц). Большинство команд выполняются за 1мкс. (750 не.), 4 мкс. на умножение и деление.

    SAB80C515 – мощный элемент семейства восьмиразрядных микроконтроллеров SIЕМЕNS SАВ8051. Он разработан по технологии SIЕМЕНS АСМOS и функционально совместим с SАВ элементами 80515, разработанными по технологии МYМ0S.

    SАВ80С515 включает дополнительные усовершенствования, которые значительно увеличивают гибкость системы и все системные характеристики. Кроме того, маломощные устройства технологии SIЕМЕN8 АСМ0S допускают приложения, где потребляемое напряжение и мощность критические . SАВ80С515 имеет два программно-выбираемых режима энергопотребления, один из которых представляет собой режим холостого хода, а другой — режим низкого потребления энергии.

    Однокристальный восьмиразрядный микроконтроллер МК1816ВЕ51 представляет собой БИС, имеющую в своем составе все атрибуты небольшой микроЭВМ:

    Арифметико-логическое устройство;

    — устройство управления;

    — постоянное запоминающее устройство программ;

    — оперативное запоминающее устройство данных;

    — интерфейсные схемы.

     

     

     

     

     

     

    1816 BE51

    060314 0952 31 Тестер интегральных микросхем060314 0952 32 Тестер интегральных микросхем060314 0952 33 Тестер интегральных микросхем060314 0952 34 Тестер интегральных микросхем

     

     

     

    060314 0952 35 Тестер интегральных микросхем

    060314 0952 36 Тестер интегральных микросхем060314 0952 37 Тестер интегральных микросхем

     

     

     

    060314 0952 38 Тестер интегральных микросхем

     

    060314 0952 39 Тестер интегральных микросхем060314 0952 40 Тестер интегральных микросхем

     

     

     

     

    060314 0952 41 Тестер интегральных микросхем

    060314 0952 42 Тестер интегральных микросхем060314 0952 43 Тестер интегральных микросхем

     

     

    Иногда в публикациях МК1816 называют однокристальной микроЭВМ, так как незначительный объем памяти программ и данных, простой набор команд и ограниченные возможности ввода/вывода информации определяет основную форму его использования — в качестве специализированного вычислителя, включаемого в контур управления объектом или процессом. Организация, система команд и средства ввода/вывода информации МК1816 лучше всего приспособлен для решения задач управления и регулирования в сравнительно несложных объектах, приборах и технологических процессах.

    В состав аппаратурных средств МК входят:

    — стираемое программируемое постоянное запоминающее устройство емкостью 1 Кбайт;

    — восьмиразрядное арифметико-логическое устройство;

    — устройство управления;

    — восьмибитный программируемый таймер/счетчик событий;

    — программно-управляемые схемы ввода/вывода (27 линий);

    Организация МК и его система команд допускают, в случае необходимости, расширение функционально-логических возможностей микроконтроллера. С использованием внешних дополнительных БИС, адресное пространство ППЗУ программ может быть расширено до 4 Кбайт. Кроме того, архитектура МК обеспечивает возможность прямой адресации внешнего ОЗУ емкостью 256 байт. С использованием более сложных программно-реализуемых способов адресации емкость внешнего ОЗУ может быть увеличена до требуемого объема страницами по 256 байт в каждой.

    060314 0952 44 Тестер интегральных микросхем060314 0952 45 Тестер интегральных микросхем060314 0952 46 Тестер интегральных микросхем060314 0952 47 Тестер интегральных микросхем060314 0952 48 Тестер интегральных микросхем060314 0952 49 Тестер интегральных микросхем060314 0952 50 Тестер интегральных микросхемКЛАВИАТУРА

    060314 0952 51 Тестер интегральных микросхем060314 0952 52 Тестер интегральных микросхем060314 0952 53 Тестер интегральных микросхем060314 0952 54 Тестер интегральных микросхем060314 0952 55 Тестер интегральных микросхем060314 0952 56 Тестер интегральных микросхем060314 0952 57 Тестер интегральных микросхем060314 0952 58 Тестер интегральных микросхем060314 0952 59 Тестер интегральных микросхем060314 0952 60 Тестер интегральных микросхем060314 0952 61 Тестер интегральных микросхем060314 0952 62 Тестер интегральных микросхем060314 0952 63 Тестер интегральных микросхем060314 0952 64 Тестер интегральных микросхем060314 0952 65 Тестер интегральных микросхем060314 0952 66 Тестер интегральных микросхем060314 0952 67 Тестер интегральных микросхем060314 0952 68 Тестер интегральных микросхем060314 0952 69 Тестер интегральных микросхем

    060314 0952 70 Тестер интегральных микросхем060314 0952 71 Тестер интегральных микросхем060314 0952 72 Тестер интегральных микросхем060314 0952 73 Тестер интегральных микросхем060314 0952 74 Тестер интегральных микросхем060314 0952 75 Тестер интегральных микросхем

    060314 0952 76 Тестер интегральных микросхем060314 0952 77 Тестер интегральных микросхем060314 0952 78 Тестер интегральных микросхем060314 0952 79 Тестер интегральных микросхем

    060314 0952 80 Тестер интегральных микросхем

     

     

    060314 0952 81 Тестер интегральных микросхем060314 0952 82 Тестер интегральных микросхем

     

    В элементную базу клавиатуры входят:

    — Полупроводниковый диод VD1;

    — Три резистора R1 — RЗ;

    — Логический элемент 4И-НЕ. Ниже приведены основные характеристики этих элементов.

    Характеристики диода УШ:

    — Umах обр. = 5В;

    — Iпр. = 10мА;

    — Iобр. = 0,5мА;

    — Uпр.=1В.

    Используемые резисторы R1 — RЗ имеют номинал 1к0м и максимальную рассеиваемую мощность 0,25Вт.

    Логический элемент 4И-НЕ имеет напряжение питания +5В. Максимальное сопротивление логического нуля на входе — не более 0,5В, а тока на выходе — не более 0,02мА.

     

    ГРОМКОГОВОРИТЕЛЬ (ДИНАМИК)

    В данном проекте используется динамик 4ГД7. Характеристики данного устройства:

    — Номинальная мощность — 4Вт;

    — Полоса воспроизводимых частот — 60-1200Гц;

    — Неравномерность частотной характеристики — не более 15Д6;

    — Среднее стандартное звуковое давление — 2,5дин/кв.см;

    Резонансная частота подвижной системы — 60±100Гц;

    060314 0952 83 Тестер интегральных микросхем060314 0952 84 Тестер интегральных микросхем

    060314 0952 85 Тестер интегральных микросхем

    060314 0952 86 Тестер интегральных микросхем

     

    УСИЛИТЕЛЬ ЗВУКОВЫХ ЧАСТОТ.

    Усилитель состоит из резисторов R4 — R5 и транзистора. Резистор R4 имеет номинальное сопротивление 1000м, а R5 — 10кОм.

    060314 0952 87 Тестер интегральных микросхем

    СВЕТОДИОДЫ

    060314 0952 88 Тестер интегральных микросхем060314 0952 89 Тестер интегральных микросхемИспользуются три светодиода красного свечения, имеющие Uпр = 5В, Iпр=5 мА, Iобр = 0,25 мА.

    060314 0952 90 Тестер интегральных микросхем060314 0952 91 Тестер интегральных микросхем

    060314 0952 92 Тестер интегральных микросхем

     

    ДИСПЛЕЙ

    060314 0952 93 Тестер интегральных микросхем

    В данном дисплее используются семисегментные индикаторы светодиодного типа. Свечение сегмента возникает при подаче на общий вывод положительного напряжения, а на катод нулевого.

    Способ организации интерфейса динамический.

    Время свечения одного индикатора 5 мкс.

    В каждой цепи шины сегментов включены токовые ключи. Ключи в цепях должны коммутировать ток для четырех разрядного индикатора 30х8 = 240 мА. Амплитуда тока протекающего через сегменты должна быть 10– 12 мА для индикаторов АЛС 324 Б.

    2.2. Схема электрическая принципиальная

     

    1. Организация взаимодействия МК с объектом

    1.1. Ожидание события

    В системах управления объектом события идентифицируются с сигналами, поступающими от датчиков цифрового и аналогового типов. Датчик типа «Включено/выключено».

    Программа ожидания напряжения 0, если сигнал поступает на линию Р1.3

    WAIT: JNB P1.3, WAIT

    Программа ожидания логической единицы

    WAIT: JB P1.3, WAIT

    Программа ожидания импульсного сигнала состоит из WAIT и WAIT 0 для положительного импульса. Минимальная длительность отрицательного импульса, который фиксируется МК, составляет 5 мкс, а положительного примерно 6,5 мкс. Если импульс более короткий, то необходимо использовать внешний триггер, который устанавливается импульсом, а сбрасывается сигналом с МК, который формируется программой после фиксации импульса.

    1.2.Формирование временной задержки

    <

    Процедура реализации временной задержки использует метод программных циклов. В регистр МК загружается некоторое число, которое затем в каждом цикле уменьшается на 1. Время задержки определяется числом, загруженным в регистр, образующих программный цикл.

    DELAY: MOV R2, #FFh ; число FFh® R2

    COUNT: djnzr2, count ; R2-1 и цикл, если R2≠0

    1.3. Формирование импульсных сигналов

    Выходной импульс реализуется следующей последовательностью: выдача уровня логической единицы в триггер порта, задержка, равная длительности импульса, выдача уровня логического нуля.

    2. Клавиатура

    Линии Р4.0– Р4.3 используются для сканирования, а Р4.4.–Р4.7 для опроса матрицы клавиш. Это разряды настраиваются на режим ввода. В разряде Р1.0–Р1.3 микроконтроллера загружаются последовательно коды сканирования, имеющие вид «бегущего нуля» и после выдачи каждого кода сканирования производится анализ состояния линий опроса.

    Значение исходного байта загружается в порт Feh = (111111110h) и далее производится последовательный опрос состояния разрядов Р1. 4– Р1.7. если замкнуты контакты S1, то низкий уровень через VD1 поступает на вход Р1.4 и этот разряд микроконтроллера устанавливается в состояние логического нуля. При разомкнутых первой строки установлены все разряды Р1.4 –Р1.7 высоким уровнем поступающим через резистор R1–R4.

    В этом случае выдается код сканирования FDh (1111101h), снова производится тестирование разрядов опроса и т.д.

    3. Дисплей

    Шина сегментов SA –SH образована выводами порта Р5 микроконтроллера, а четыре младших разряда порта P4 образуют шину выбора индикатора (SEL1–SEL4). Ток логического нуля усиленный элементов DD2 по проводу 11 протекает через регистр R7 и открывает VT4. Остальные транзисторы включены. Напряжение питания +5В поступает через открытый транзистор на общий анод HG4, вызывая индикацию символа. Такое состояние сохраняется в течение 5 мс. По окончании этого временного интервала микроконтроллер выдает на разряд порта SEL1 высокий уровень, транзистор VT4 закрывается, индикация прекращается. Затем в порт Р5 выдается семисегментный код символа индикатора HG3, а разряд Р1.1 устанавливается в состояние низкого уровня. Тем самым включая ключ VT3 и индицируется символ в этом разряде дисплея.

    4. Блок индикаторов

    Спектры внутреннего излучения наиболее эффективным, а потому и наиболее интересны с практической точки зрения – красные светодиоды из GaP: Zn, 0[73] и зеленые из GaP: N [23]. Цвет излучения определяется доминирующими длинами волн 637 нм для красного и 556 нм для зеленого светодиодов. Материал, легированный азотом избирательно поглощает коротковолновую часть спектра зеленого изучения, сдвигая доминирующую длину волны излучения светодиодов в пластмассовой оболочке примерно до 571 нм. Эта длина волны находится на границе между желтовато-зеленым и зеленовато-желтым цветами, и ее физиологическое восприятие зависит от окружающего фона.

    5. Динамик

    В данном проекте используется низкочастотный электродинамический громкоговоритель, который в международном словаре определяется как «громкоговоритель, действие которого основано на движении в постоянном магнитном поле проводника или катушки, питаемых переменным током». Динамик реализован в катушечном варианте, в котором соединения с излучающей диафрагмой цилиндрическая катушка с намотанным в несколько слоев проводником помещена в кольцевой зазор магнитной цепи, где с помощью постоянного магнита создается радиональное магнитное поле.

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    3. Описание алгоритма

     

    Начало алгоритма. Установка счетчика проходов теста. Загрузка кодов в регистры.

    Включение индикатора «ГОТОВ» и выключение остальных, начало работы дисплея. Условие: ожидание нуля и выбор ИМС 1.

    Либо выбор ИМС 2, последовательность тестирования которой является такой же, как и у ИМС 1.

    Если условие верно, то тестируем ИМС 1, если нет, то ожидание нуля на выбор ИМС 2.

    Если верно, то тестируем ИМС2, если неверно, то возврат.

    Ожидание клавиши «ТЕСТ», если «Да», то переход на тестирование, если «Нет», то следует ожидание.

    При верном условии включается индикатор ТЕСТ.

    Затем выдаются результаты на дисплей и выдача входной комбинации ИМС1.

    Результат с выходов ИМС в А. опять выдается результат на дисплей.

    Условие: сравнение входной комбинации, если «Да», то включается индикатор «НОРМА», если «Нет», то включается индикатор – «БРАК» и вывод звукового сигнала о неисправности, ожидание сброса.

    Конец алгоритма.

     

     

     

     

     

     

     

    4. Описание программы

     

    Начало программы с адреса О. Содержимое таблицы перекодировки пересылается в DPTR. Заносятся коды символов. Начинается процедура START, в которой устаналивается счетчик проходов теста, т.е. сколько раз будет происходить тестирование ИМС. Затем происходит занесение кодов в ячейки. Загрузка входных/ выходных кодов. Происходит установка «1» в Р3.0, чтобы засветить индикатор «ГОТОВ». Остальные разряды порта Р3 устанавливаются в «0», т.е. гасятся, а именно Р3.1 – «НОРМА», Р3.4 –«ТЕСТ», р3.5 –«БРАК».

    Начинается подпрограмма дисплея. В регистр R4 заносится исходный код выборки индикатора, в R0 адрес ячейки ОЗУ дисплея и пересылается код данных в аккумулятор.

    В процедуре М происходит выбор ИМС1 или ИМС2, в зависимости от того в какой разряд порта Р0 была установлена «1» и возврат на М для смены ИМС. Нажимается клавиша «ТЕСТ» для тестирования ИМС1, при выборе в процедуре М ИМС1. Затем гасятся все индикаторы, преобразуется код данных в позиционный семисегментный и этот код выдается в порт Р5. Пересылка R4 в аккумулятор. Засвечивается младший индикатор. Следующий код выборки. Сохранили его. Затем инкрементируется R0, формируется адрес следующего байта данных. Начинается подпрограмма задержки Вычисляются внешние и внутренние циклы X и Y. Далее происходит цикл индикации. Переход на подпрограмму дисплея и повторить цикл индикации. Возврат из подпрограммы.

    Устанавливаем «1» в четвертый разряд порта Р3, загорается индикатор «ТЕСТ». Пересылка на входы ИМС, затем результаты с выходов ИМС. Опять вызывается подпрограмма дисплея и происходит сравнение R3с аккумулятором, если верно, то программа выполняется далее, если нет, то переход на процедуру В. Сравнение содержимого R5 с R1, в котором содержится входной/выходной код. Инкрементируется R5. пересылка содержимого ячейки ОЗУ дисплея в R1 и содержимое 0ВН в R3, переход на процедуру М. происходило первое тестирование ИМС. В процедуре К1 происходило второе тестирование, т.е. меняются комбинации входных нулей и единиц на логическую ИМС.

    В процедуре К2 загорается индикатор «НОРМА», если верно. Ожидание сброса и возврат на В2. Опять нажимается клавиша «ТЕСТ», возврат на М2. Горит индикатор «ТЕСТ». Происходит пересылка на входы ИМС и с выходов ИМС в аккумулятор. Вызов подпрограммы дисплея. Сравнение: если R4 равно А, то происходит третье тестирвоание, если неверно, то переход на процедуру В1 и т.д.

    Если тестирование прошло удачно, то загорается индикатор «НОРМА», ожидание сброса.

    Если тестирование прошло неудачно, т.е. обнаружились неисправности в ИМС, загорается индикатор «БРАК» и вывод сигнала на динамик, т.е.звуковое сообщение об ошибке, ожидание установок, вызов подпрограммы задержки, сброс установок.

    Загружаем FFH в R2, потом вычитаем и сравниваем с нулем и пока не равен «0» переходит само на себя и т.д.

    Конец.

     

    СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

     

     

  3. Алдошкина И.А. Электродинамические громкоговорители.
  4. рег А., Дин П. Светодиоды.
  5. Ксенофондова Л.Э. Конспект лекций по УПТК.
  6. Ошер Д.Н., Малинский Б.Д., Теплящкий А.Я. Регулировка и испытание аппаратуры (с. 168)
  7. Митрейкин Н.А., Озерский А.И. Надежность и испытания радиодеталей и радиокомпонентов (с. 264)
  8. Проектирование радиоэлектронных устройств на ИМС/ Под ред. Шаца С.Я.
  9. Тулий М. Справочное пособие по цифровой электронике (с.118, с. 136, с. 167).

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    060314 0952 94 Тестер интегральных микросхем060314 0952 95 Тестер интегральных микросхемПриложение Б

     

    ORG 

    0 

     
     

    MOV 

    DTR, #TAB_COD_S 

         

    START: 

    MOV

    R5, # 004

     

    MOV

    R1, # 4BH

     

    MOV

    R2, # 4DH

     

    MOV

    R3, # 0EH

     

    MOV

    R4, # 04H

         

    RESET:

    SETB

    P 3.0

     

    CLR

    P 3.1

     

    CLR

    P 3.4

     

    CLR

    P 3.5

         

    DISP:

    MOV

    R4, # 0FEH

     

    MOV

    R0, # 35H

    NXT:

    MOV

    A, @ R0

         

    M:

    JB

    P0.0, M1

     

    JB

    P0.1, M2

         

    M1:

    JB

    P0.2, M3

     

    SJMP

    M1

         
     

    MOV

    P4, # 0FFH

     

    MOVC

    A, @A+ DPTR

     

    MOV

    P5, A

     

    MOV

    A, R4

     

    MOV

    P4, A

     

    RL

    A

     

    MOV

    R4, A

     

    INC

    R0

     

    MOV

    R1, #10

         

    ST_2:

    MOV

    R2, #20

    ST_1:

    DJNZ

    R2, ST_1

     

    DJNZ

    R1, ST_2

     

    CJNE

    R0, #394, NXT

     

    LJMP

    DISP

     

    RET

     

    M3: 

    SETB 

    P3.4 

     

    MOV

    P4, R1 

     

    MOV

    A, P5 

     

    MOV

    35, A 

     

    CALL 

    DISP 

     

    CJNE 

    A, R3, B1 

     

    CJNE 

    R5, #00, R1 

     

    INC 

    R5 

     

    MOV

    R1, #35H 

     

    MOV

    R3, #OBH 

     

    SJMP 

    M3 

         

    K1: 

    CJNE 

    R5, #01, K2 

     

    MOV 

    R1, #60H 

     

    MOV 

    R3, #0FH 

     

    INC 

    R5 

       

    Продолжение приложения Б

         
     

    SJMP 

    M3 

         

    K2: 

    SETB 

    P3.1 

    B2: 

    JB 

    P0.3, RESET 

     

    SJMP 

    B2 

         

    B3: 

    SETB 

    P3.4 

     

    MOV

    P4, R2 

     

    MOV

    A, P5 

     

    MOV

    35, A 

     

    CALL 

    DISP 

     

    CJNE 

    A, R4, B1 

     

    CJNE

    R5, #00, K1 

     

    INC 

    R5 

     

    MOV

    R2, #A3 

     

    MOV

    R4, #024 

     

    SJMP 

    M3 

         

    K1: 

    CJNE 

    R5, #01, K2 

     

    MOV

    R2, #F0H 

     

    MOV

    R4,#03H 

     

    INC 

    R5 

     

    SJMP 

    M3 

    K2: 

    SETB 

    P3.1 

    B4: 

    JB 

    P0.3, RESET

     

    SJMP 

    B4 

         

    B1: 

    SETB 

    P3.5 

     

    CLR 

    P3.6 

     

    SETB 

    P3.6 

     

    LCALL 

    DELAY 

     

    CLR 

    P3.6 

         

    DELAY: 

    MOV

    R2, #FFH

    COUNT: 

    DJNZ

    R2, COUNT

         
     

    JB

    PO.3, RESET

     

    SJMP

    B1

     

    RET

     
         

    TAB_COD_S: DB 0C0H, 0F9H, 0A4H, 0B0H, 99H

       

    92H, 82 H, 0F8H, 80H, 90H

         

    END

       

     

     

     


     

<

Комментирование закрыто.

MAXCACHE: 1MB/0.00041 sec

WordPress: 22.01MB | MySQL:117 | 1,906sec